Antognazza L., Decroux M., Fischer O., Grilli F., Duron J.(joseph.duron@epfl.ch), Dutoit B*1.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate sapphire, FCL resistive, numerical analysis, temperature dependence, modeling, power equipment
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.